作者:标准资料网 时间:2024-05-19 10:04:46   浏览:8545   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices;integratedcircuits;part20:genericspecificationforfilmintegratedcircuitsandhybridfilmintegratedcircuits;section1:requirementsforinternalvisualexamination
【原文标准名称】:半导体器件集成电路第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范第1节:内部目检要求
【标准号】:IEC60748-20-1-1994
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1994-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47A
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:导体连接件;集成电路;方法;衬底(绝缘);电气工程;膜集成电路;混合集成电路;薄膜电路;外观检查(试验);内部;总规范;半导体器件
【英文主题词】:
【摘要】:Thepurposeistochecktheinternalmaterials,constructionandworkmanshipoffilmandhybridintegratedcircuits.TheseexaminationswillnormallybeusedpriortotappingorencapsulationtodetectandeliminatetheFandHFICswithinternaldefects
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:55P;A4
【正文语种】:英语